絕緣老化測量評估系統(tǒng)（SIR絕緣老化測試系統(tǒng)）使離子遷移、絕緣電阻測量及絕緣特性評價成為可能的“3Way USE型”
所有頻道均帶有微小電流計，可以連續(xù)并高速(40ms/8ch)地進行測量，正確捕捉瞬時發(fā)生、結(jié)束的離子遷移現(xiàn)象。
250V計測基板為8ch/1電源，MAX達128ch,500V計測基板為1ch/1電源，max達64ch，新設(shè)計的120V計測基板可以按每1ch分別設(shè)定試驗條件(施加電壓、電流測量值)
可以對應力施加電壓和測量電壓進行任意設(shè)定，通過切換時間可避免發(fā)生測量遺漏的情況。
以往機型的測量基板也可以并用。

絕緣老化測量評估系統(tǒng)還可以與SIR11、12 用測量基板混合使用。
施加電壓 120V?250V?500V?1KV DC
測量頻道 16ch/基板（max 128ch）
*：120V、500V、1KV為8ch/基板（max 64ch）
電流測量范圍 1) 320μA　~　10nA
                  2) 3.2μA　~　10pA
3) 32nA　~　1pA
遷移測量速度 40ms（8ch）